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樣品在掃描電子顯微鏡（SEM）中的放置角度確實(shí)會影響獲得的圖像質(zhì)量和信息。具體影響主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

信號強(qiáng)度和對比度變化

SEM 的電子束垂直照射樣品表面時(shí)，反射電子（反射電子成像）和二次電子（形貌成像）信號通常更強(qiáng)，圖像對比度較好。如果樣品傾斜角度較大，電子束入射角變斜，信號強(qiáng)度可能減弱，導(dǎo)致圖像對比度降低或細(xì)節(jié)不清晰。

形貌和立體感的表現(xiàn)

適當(dāng)傾斜樣品（比如通常傾斜 30° 或 45°）可以增強(qiáng)表面立體感，因?yàn)槎坞娮有盘柺鼙砻娲植诙群徒嵌扔绊戄^大。這種傾斜常用于觀察斷口、斷層、刻蝕結(jié)構(gòu)等，有助于獲得更明顯的三維形貌信息。

幾何畸變和尺寸測量誤差

樣品放置角度不垂直于電子束時(shí)，圖像會產(chǎn)生幾何投影畸變，測量尺寸時(shí)需要校正傾斜角度，否則得到的尺寸數(shù)據(jù)會偏大或偏小。

元素分析信號的影響

在做能譜（EDS）分析時(shí)，樣品角度會影響X射線的產(chǎn)生和探測效率，傾斜過大會導(dǎo)致信號減弱或不均勻，從而影響元素定量分析的準(zhǔn)確性。

避免陰影效應(yīng)

如果樣品角度擺放不當(dāng)，特別是高大結(jié)構(gòu)或凸起部分，會在電子束照射下產(chǎn)生陰影，導(dǎo)致圖像部分區(qū)域信號缺失或變暗。