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在掃描電子顯微鏡中，電子束與樣品之間存在多種相互作用，這些相互作用產生的信號被用于生成樣品表面的圖像。以下是主要的電子束與樣品相互作用過程：

彈性散射：

這是基本的相互作用過程，其中入射的高能電子與原子核或電子云相互作用，導致電子的方向發生改變，但其能量保持不變。這不會直接產生圖像，但可以提供有關樣品的一些結構信息。

非彈性散射：

在非彈性散射中，入射電子與樣品中的原子或電子發生相互作用，導致電子喪失或獲得能量。這些能量損失的電子稱為散射電子，它們可以提供有關樣品組成的信息。

二次電子發射：

當高能電子與樣品表面原子相互作用時，可能會引起表面原子中的一個或多個電子被釋放出來，形成稱為二次電子的電子。這些二次電子是生成SEM圖像的主要信號。不同材料的表面形貌差異可以通過捕捉和檢測二次電子來可視化。

反射電子：

部分入射電子可能會經歷彈性散射并以較高的能量返回，這些被稱為反射電子。這些電子的能量與樣品的原子序數有關，因此可以提供有關樣品組成的信息。

這些相互作用過程產生的不同信號通過探測器捕獲，并轉換成電信號，然后用于生成圖像。通過掃描電子束并記錄不同位置的信號，可以形成高分辨率的表面形貌圖像。這種圖像提供了關于樣品表面微觀結構和組成的詳細信息。

ZEM20臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的成像中電子束如何與樣品相互作用。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢