SEM掃描電鏡的基本結構
日期：2023-04-28
SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，它利用高能電子束與樣品表面相互作用，通過對樣品表面的電子信號進行探測和分析，從而獲得樣品的形態、結構和成分等信息。掃描電鏡的基本結構主要包括以下幾個部分：
電子槍：電子槍是掃描電鏡的核心部分，主要由熱陰極、加速電極和聚焦磁場等組成。電子槍產生的電子束在加速電極的加速下，形成高能電子束，從而對樣品進行掃描。
樣品臺：樣品臺是用于支撐樣品的平臺，通常由三維微調臺和旋轉臺組成。樣品需要放置在樣品臺上，并通過微調和旋轉來準確定位和調整。
掃描線圈：掃描線圈是用于控制電子束掃描范圍和掃描速度的磁場系統。掃描線圈可以通過電磁鐵來調節磁場的強度和方向，從而控制電子束的掃描范圍和掃描速度。
檢測器：檢測器是用于探測樣品表面反射、散射和次級電子等信號的裝置，通常包括次級電子探測器、反射電子探測器和透射電子探測器等。不同的檢測器可以獲取不同類型的信號，從而對樣品進行不同方式的分析。
顯示器和計算機：掃描電鏡需要將采集到的信號進行數字化處理，并將結果顯示在計算機上。計算機還可以對樣品進行圖像處理和分析，從而提取出更多的信息。
以上是掃描電鏡的基本結構，不同型號的掃描電鏡可能會有一些差異。但總體而言，掃描電鏡的結構都是由電子槍、樣品臺、掃描線圈、檢測器和計算機等幾個主要部分組成的。
以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的基本結構。更多掃描電鏡信息及價格請咨詢
TAG：
作者：澤攸科技
上一篇：掃描電鏡用來分析什么
下一篇：掃描電鏡樣品為什么要導電