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 掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）是一種利用高速電子掃描來(lái)研究材料表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)的儀器。相比于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡，SEM具有更高的分辨率和深度，可以觀察到更小尺度的微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。SEM在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、電子學(xué)等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。

SEM的原理是將樣品放在真空室內(nèi)，然后用電子槍產(chǎn)生高速電子束，掃描樣品表面，樣品表面受到電子轟擊后發(fā)出的次級(jí)電子、反射電子等被收集并轉(zhuǎn)化成圖像信號(hào)，然后通過(guò)電子透鏡和探測(cè)器放大和檢測(cè)這些信號(hào)，再通過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理和分析，然后形成高分辨率的樣品表面形貌圖像。

臺(tái)式掃描電鏡

SEM的應(yīng)用范圍很廣，常用于材料科學(xué)中的納米材料、復(fù)合材料、金屬材料、陶瓷材料等的形貌表征、成分分析和晶體結(jié)構(gòu)分析；生物學(xué)中的細(xì)胞結(jié)構(gòu)、細(xì)胞器結(jié)構(gòu)、生物材料的形貌表征等方面的研究；電子學(xué)中的芯片材料和器件結(jié)構(gòu)分析等方面的應(yīng)用；地質(zhì)學(xué)中的礦物學(xué)和巖石學(xué)方面的研究等。SEM還可以與其他分析技術(shù)如X射線能譜分析、掃描探針顯微鏡等結(jié)合使用，進(jìn)行更加全的分析和表征。

總之，SEM是一種非常有用的高分辨率顯微技術(shù)，可以用來(lái)觀察和分析各種不同領(lǐng)域的材料和結(jié)構(gòu)，為科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)提供了強(qiáng)有力的工具和支持。

以上就是安徽澤攸科技有限公司小編介紹的掃描電子顯微鏡的原理及應(yīng)用。更多掃描電鏡價(jià)格及信息請(qǐng)咨詢