SEM掃描電鏡的測(cè)量范圍
日期：2023-02-14
SEM掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面并捕捉其反射、散射或二次電子發(fā)射等信號(hào)進(jìn)行成像的高分辨率顯微技術(shù)。SEM的測(cè)量范圍取決于其加速電壓、焦距、探針電流等參數(shù)，一般來(lái)說(shuō)，SEM的測(cè)量范圍可以從亞納米級(jí)到毫米級(jí)不等。
具體來(lái)說(shuō)，低加速電壓和小探針電流可以提高SEM的表面靈敏度和成像分辨率，適合對(duì)表面細(xì)節(jié)、納米結(jié)構(gòu)、微小顆粒等進(jìn)行觀察和分析，其測(cè)量范圍一般在亞微米至幾毫米左右；而高加速電壓和大探針電流可以提高SEM的透射深度和成像速度，適合對(duì)比較厚的樣品、大面積表面形貌等進(jìn)行觀察和分析，其測(cè)量范圍可以擴(kuò)展至數(shù)毫米。因此，SEM是一種非常靈活和多功能的顯微技術(shù)，可以滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域的觀察和分析需求。
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作者：澤攸科技
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